Visite du pôle de caractérisation de l’ICPEES au DAUM – Institut Jean Lamour (Nancy)

Le pôle de caractérisation de l’ICPEES s’est rendu le 27 mai 2025 sur la plateforme DAUM (dépôts et Analyses sous Ultravide de nanoMatériaux ) de l’Institut Jean Lamour à Nancy. Cette visite a permis d’approfondir les échanges scientifiques autour des techniques de dépôt sous ultravide et d’analyse avancée des nanomatériaux. Une belle opportunité de renforcer les collaborations et de découvrir les équipements de pointe de cette plateforme interdisciplinaire.