La plateforme STnano, certifiée ISO 9001, est commune à deux instituts : l’IPCMS (UMR7504) et l’ICPEES (UMR7515). Elle offre de nombres ressources pour la préparation et la caractérisation de nano-objets.
Composée d’une salle blanche de classe 6 de 180 m² et de plusieurs salles grises de classe 5, elle est complétée par un laboratoire de lithographie électronique (eFab) et d’une salle blanche dédiée aux matériaux 2D (2DLab).
En terme de techniques de caractérisation, on trouve notamment :
- un microscope à force atomique (AFM) de modèle Bruker Dimension Edge offrant des prestations de C-AFM (AFM conducteur), PFM (piézoréponse), MFM (microscopie à force magnétique) ;
- plusieurs microscopes optiques dont un Zeiss Axio doté d’une lentille de x100;
- un profilomètre mécanique3D Veeco Dektak qui peut réaliser des cartes 3D des échantillons ;
- un système de mesure de résistance à 4 points formé d’un résistomètre à 4 points Kerl Suss PM8 couplé à un sourcemètre Keithley 2400 et un multimètre digital Keithley 2100.
